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光譜儀
光纖光譜儀
ATP30344096像素超高分辨率光纖光譜儀




4096像素超高分辨率光纖光譜儀
產(chǎn)品簡介
| 品牌 | 奧譜天成 | 光譜范圍 | 近紅外,180 - 1100nm |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 光譜范圍 | 近紅外,180 - 1100nm |
| 按探測器 | CCD | 應用領域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥 |
ATP3034系列是奧譜天成在光譜分析技術領域的又一力作,代表了光纖光譜儀高分辨率發(fā)展的新成就。該系列產(chǎn)品以其卓1越的4096像素探測能力,成功實現(xiàn)了從紫外到近紅外波段(180-1100nm)的寬譜段覆蓋,為精密光譜分析樹立了新的技術標1桿。
這款光譜儀的核心突破在于其像素密度。相較于傳統(tǒng)的2048像素探測器,ATP3034采用的4096像素探測器將采樣點數(shù)提升了一倍,這使得其在全波段范圍內(nèi)都能獲得更加細膩、精確的光譜數(shù)據(jù)。這一特性特別適用于需要分辨極其接近光譜特征的嚴苛應用場景,為科研和工業(yè)檢測提供了前所未1有的分辨能力。
在光學設計方面,研發(fā)團隊對光路結構、電路系統(tǒng)和信號處理方法進行了全1方位的深度優(yōu)化。通過精密的交叉C-T光路設計,結合先1進的光學模擬與優(yōu)化算法,確保了光線在傳輸過程中的最小損耗和最1優(yōu)成像質(zhì)量。同時,專門開發(fā)的低噪聲讀出電路和創(chuàng)新的信號處理算法,共同實現(xiàn)了超低噪聲的卓1越性能,使儀器在保持高靈敏度的同時,能夠有效抑制各類干擾信號。
該系列中的ATP3011P型號更是采用了TE深度制冷技術,將探測器溫度穩(wěn)定控制在精確的設定值。這種主動溫控設計不僅顯著降低了探測器的暗電流噪聲,更大幅提升了系統(tǒng)的信噪比和動態(tài)范圍。值得一提的是,ATP3011P僅需單一的5V直流電源供電,通過USB2.0或UART接口進行數(shù)據(jù)傳輸,這種簡潔的供電和通信方案極大地便利了系統(tǒng)的集成與應用。
為了滿足不同用戶的需求,該系列提供了完整的型號配置:
ATP3000:2048像素探測器,非制冷版本
ATP3040:4096像素探測器,非制冷版本
ATP3011P:4096像素探測器,TE深度制冷版本
ATP3034 4096像素超高分辨率光纖光譜儀系列在技術參數(shù)上表現(xiàn)卓1越,其主要特征包括:
探測系統(tǒng):配備4096像素的高靈敏度探測器,配合先1進的制冷技術,確保在長時間曝光下仍能保持極低的噪聲水平
分辨率性能:憑借高密度像素和優(yōu)化的光路設計,可實現(xiàn)0.01nm的分辨率,能夠清晰分辨極其細微的光譜特征
靈敏度表現(xiàn):高達650V/(lx·s)的靈敏度指標,使其能夠有效檢測微弱光信號
光譜范圍:覆蓋180-1100nm的寬譜段,從深紫外延伸至近紅外區(qū)域
讀出性能:讀出速率達10MHz,確保數(shù)據(jù)采集的高速性
光學結構:采用精密的交叉C-T光路設計,在緊湊的空間內(nèi)實現(xiàn)優(yōu)異的光學性能
操作參數(shù):積分時間范圍從1ms到65535ms,提供充分的調(diào)節(jié)空間以適應不同亮度條件的測量需求
供電設計:采用DC 5V±10%,電流<2A的供電方案,兼顧了性能與能效的平衡
接口配置:支持SMA905光纖接口和自由空間光輸入,數(shù)據(jù)輸出提供USB2.0高速接口和UART兩種選擇
憑借其超高分辨率和優(yōu)異的信噪比表現(xiàn),ATP3034系列在多個精密測量領域展現(xiàn)出獨特的價值:
在分析化學領域,該系列是構建微量、快速分光光度計的核心部件,能夠?qū)ξ⒘繕悠愤M行快速、準確的光譜分析。在基礎科學研究中,它為光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析提供了強有力的工具,幫助研究人員獲取更加精細的光譜信息。
在材料表征方面,ATP3034系列能夠精確完成透過率、吸光度檢測,為材料光學特性的研究提供可靠數(shù)據(jù)。同時,在反射率檢測應用中,其高分辨率特性能夠準確捕捉材料表面光學特性的細微變化。
在光源特性分析領域,該系列適用于波長檢測,涵蓋紫外、可見和短波近紅外波段,為激光器、LED等光源的波長特性分析提供精確測量。此外,在橢偏儀系統(tǒng)中,ATP3034的高分辨率和低噪聲特性為薄膜厚度和光學常數(shù)的精確測定提供了有力保障。
ATP3034系列4096像素超高分辨率光纖光譜儀的成功研制,不僅體現(xiàn)了奧譜天成在光譜技術領域的深厚積累,更為高1端科研和精密工業(yè)檢測提供了強有力的技術支撐,推動著光譜分析技術向著更高精度、更高靈敏度的方向不斷發(fā)展。