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制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀
產品簡介
| 品牌 | 奧譜天成 | 分辨率 | 0.05 ~ 3nm |
|---|---|---|---|
| 光譜范圍 | 近紅外,200-1100nm | 價格區間 | 面議 |
| 光譜范圍 | 近紅外,200-1100nm | 按探測器 | CCD |
| 應用領域 | 環保,食品/農產品,化工,生物產業,制藥/生物制藥 |
奧譜天成基于深厚的光譜技術積淀,正式推出新一代ATP3330及ATP5330系列制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀。該系列產品采用獨特的M型光路設計,并融合了TEC熱電制冷技術,將微型光譜儀的性能推向了一個新的高峰,旨在滿足各類苛刻的高分辨率光譜分析需求。
該系列產品的核心競爭力源于其兩項核心技術:M型光路結構與可選探測器制冷方案。
M型光路與超高分辨率:與傳統光路相比,優化后的M型光路結構在同樣緊湊的體積內,實現了更高的光通量與色散效率,從而賦予了光譜儀極1致的分辨能力。其分辨率可達0.05nm,能夠清晰分辨極其接近的 spectral features,為精密分析奠定了堅實基礎。
TEC制冷技術與優異信噪比:該系列提供了制冷與非制冷的靈活配置。其中,ATP5330子系列采用了精密的TEC電制冷技術,可將探測器核心溫度穩定控制在-5℃(ATP5330P更可達-10℃)。這種主動制冷方式能顯著降低探測器的暗電流和本底噪聲,其直接效益是大幅提升了光譜儀的動態范圍和信噪比。這意味著在測量微弱信號時,能夠獲得更清晰、更純凈的光譜數據,同時增強了設備在環境溫度波動下的測量穩定性與可靠性。
為精準覆蓋不同應用場景與預算,該系列提供了豐富的型號選擇,核心區別在于制冷技術與探測器像素:
| 型號 | 探測器制冷 | 探測器像素 |
|---|---|---|
| ATP3330 | 否 | 2048 |
| ATP3334 | 否 | 4096 |
| ATP5330 | 是,-5℃ | 2048 |
| ATP5334 | 是,-5℃ | 4096 |
| ATP5330P | 是,-10℃,背照式CCD | 2048 |
用戶可根據對分辨率(像素數)和信噪比(制冷)的具體要求,選擇最合適的型號。特別是ATP5330P,采用背照式CCD技術,具有更高的量子效率,使其在極弱光探測中表現尤為出色。
光學性能:覆蓋200-1100nm的寬光譜范圍,分辨率在0.05nm至3nm之間可調,采用非交叉C-T光路,結構穩定。
探測系統:配備2048或4096像素的高靈敏度探測器,配合16位高精度ADC,確保數據采集的豐富性與準確性。
操作與集成:積分時間范圍寬廣,從0.1毫秒到256秒,既可捕捉高速動態過程,也能累積極弱光信號。供電設計簡便,ATP3330僅需5V直流或USB取電;ATP5330系列需額外5V電源。數據接口采用現代化的USB Type-C,傳輸穩定高效,并預留了20針擴展接口,支持功能定制與二次開發。
輸入輸出:支持SMA905光纖輸入和自由空間光輸入,兼容性強,便于集成到各種光學系統中。
憑借其超高分辨率、低噪聲及高可靠性等特性,ATP3330/ATP5330系列已成為眾多前沿科研與工業分析領域的理想工具:
高級科研分析:適用于LIBS(激光誘導擊穿光譜)、等離子體發光檢測、拉曼光譜檢測等,需要高分辨率來分辨精細光譜結構的場景。
光源特性監測:用于激光器、LED等發光元件的波長、光譜形狀及穩定性的精確監測與分選。
環境與品質檢測:集成于水質分析儀、LED分選機、顏色檢測設備以及反射、透射光譜檢測系統中,提供精準的數據支持。
通用光譜分析:廣泛應用于光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析等各類光學實驗與在線過程控制。
總而言之,奧譜天成ATP3330/ATP5330制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀以其超高的分辨率、優異的信噪比和緊湊的設計,成功實現了高性能、高可靠性與低成本的良好平衡,為光譜技術從實驗室走向在線、便攜和嵌入式應用提供了強有力的核心組件。