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光譜儀
光纖光譜儀
ATP3330超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀





超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 品牌 | 奧譜天成 | 分辨率 | 0.05 ~ 3nm |
|---|---|---|---|
| 光譜范圍 | 近紅外,200-1100nm | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 光譜范圍 | 近紅外,200-1100nm | 按探測(cè)器 | CCD |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥 |
奧譜天成傾力推出的ATP3330及ATP5330超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀,代表了微型光纖光譜儀技術(shù)的一次重要飛躍。該系列產(chǎn)品集超薄設(shè)計(jì)、超高分辨率與先1進(jìn)制冷技術(shù)于一身,是基于奧譜天成自主研發(fā)的M型光路結(jié)構(gòu)打造的新一代高性能光譜分析核心模塊。它們不僅突破了微型光譜儀在物理尺寸上的限制,更在光學(xué)性能上達(dá)到了業(yè)界領(lǐng)1先水平,旨在為各類(lèi)高精度、高靈敏度的光譜分析應(yīng)用提供解決方案。
本系列產(chǎn)品的卓1越性能,首先歸功于其創(chuàng)新的M型光路設(shè)計(jì)。該設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)的Czerny-Turner光路,在保持結(jié)構(gòu)緊湊的同時(shí),通過(guò)優(yōu)化光路布局,顯著減少了像差,從而獲得了更高的光通量和更優(yōu)異的光譜成像質(zhì)量。正是這一核心設(shè)計(jì),使得ATP3330系列能夠?qū)崿F(xiàn)0.05納米的極1致分辨率,能夠清晰分辨波長(zhǎng)極為接近的光譜特征,為尖1端科研與精密工業(yè)檢測(cè)奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
為了滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景下對(duì)信噪比和穩(wěn)定性的苛刻要求,該系列提供了從非制冷到深度制冷的靈活配置。其中,ATP5330子系列采用了TEC半導(dǎo)體制冷技術(shù),可將探測(cè)器核心溫度穩(wěn)定控制在-5℃。這種主動(dòng)制冷技術(shù)能極大地抑制探測(cè)器的暗電流和熱噪聲,其直接效益是大幅拓寬了光譜儀的動(dòng)態(tài)范圍,并顯著提升了信噪比。這使得ATP5330系列在測(cè)量微弱光信號(hào)(如拉曼光譜、熒光光譜)時(shí),能夠獲得極其純凈、可靠的數(shù)據(jù)。特別值得一提的是ATP5330P型號(hào),它采用了深度制冷至-10℃的背照式CCD探測(cè)器,憑借其更高的量子效率和更低的讀出噪聲,將信噪比表現(xiàn)提升至更優(yōu)水平,堪稱(chēng)極弱光探測(cè)的利器。
| 型號(hào) | 探測(cè)器制冷 | 探測(cè)器像素 |
|---|---|---|
| ATP3330 | 否 | 2048 |
| ATP3334 | 否 | 4096 |
| ATP5330 | 是,-5℃ | 2048 |
| ATP5334 | 是,-5℃ | 4096 |
| ATP5330P | 是,-10℃,背照式CCD | 2048 |
光學(xué)核心:采用獨(dú)特的M型光路與非交叉C-T結(jié)構(gòu),確保超高分辨率;覆蓋200-1100nm的寬光譜范圍,分辨率在0.05nm至3nm間可調(diào)。
探測(cè)系統(tǒng):可選2048或4096像素的線陣探測(cè)器,配備16位高精度ADC,確保數(shù)據(jù)采集的豐富度與準(zhǔn)確性。
性能:寬廣的積分時(shí)間范圍,從0.1ms至256s,既能捕捉高速瞬態(tài)光譜,也能累加測(cè)量極微弱信號(hào)。
便捷集成:超薄超小的機(jī)械設(shè)計(jì),極大節(jié)省安裝空間。ATP3330供電簡(jiǎn)便,僅需一個(gè)5V直流電源或直接通過(guò)USB接口取電;ATP5330系列因制冷功耗需要額外的5V電源。數(shù)據(jù)輸出采用現(xiàn)代化的USB Type-C接口,并預(yù)留了20針可編程擴(kuò)展接口,為用戶的二次開(kāi)發(fā)和系統(tǒng)集成提供了極大的靈活性。
輸入方式:支持標(biāo)準(zhǔn)的SMA905光纖輸入和自由空間光輸入,兼容性強(qiáng)。
憑借其頂1尖的性能與卓1越的適應(yīng)性,ATP3330/ATP5330系列已成為眾多前沿領(lǐng)域的理想選擇:
科研分析:適用于LIBS(激光誘導(dǎo)擊穿光譜)、等離子體發(fā)光檢測(cè)、拉曼光譜檢測(cè)等需要高分辨率解析精細(xì)光譜結(jié)構(gòu)的研究。
光源監(jiān)測(cè)與分選:用于激光器波長(zhǎng)穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)、LED光譜分析與顏色分選,確保光源產(chǎn)品的質(zhì)量與一致性。
環(huán)境與工業(yè)檢測(cè):作為核心模塊集成于水質(zhì)分析儀、在線過(guò)程監(jiān)測(cè)系統(tǒng)以及材料反射、透射光譜檢測(cè)設(shè)備中。
通用光譜研究:廣泛服務(wù)于光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析等各類(lèi)光學(xué)實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)。
綜上所述,奧譜天成ATP3330/ATP5330超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀成功地將超高分辨率、低噪聲性能與微型化設(shè)計(jì)融為一體,以高性?xún)r(jià)比和高可靠性,為現(xiàn)代光譜技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室走向在線、便攜和嵌入式應(yīng)用,提供了強(qiáng)大的技術(shù)支撐與核心裝備。